矽材料測試儀簡介：
矽材料電阻率測試儀是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，適用於半導體及太陽能行業的矽料,矽棒矽塊矽片的電阻率型號測試。 
矽材料電阻率測試儀體積小，精度高，測量範圍寬，運用四探針原理能夠測量矽晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻。本儀器適用於半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。
矽材料測試儀特點：
適中的體積和便攜性，便攜式，使用9V供電。
操作簡單，測試快速。
同時檢測矽半導體材料的電阻率和型號兩項指標。
矽材料電阻率測試儀采用220V交流電源供電矽材料綜合測試儀。
擁有較高的電阻率測試分辨率，可到0.001 歐姆.厘米”。
能的分辨電阻率在0.002 歐姆.厘米以上的矽半導體材料型號。
*立的P/N 型重摻告警設置，便於工廠大規模快速選料。
具有電阻率及型號測試功能，適合分選型號，並能夠測試並顯示出電阻率的值。
預設樣片厚度，自動修正，直讀電阻率
報警門限預設0-1.0，按0.1步進，0不報警
整機尺寸：92×140×24 mm
電阻率:0.01-50歐姆厘米
P/N型號:0.1歐姆厘米<電阻率<500歐姆厘米

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